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PCT高壓加速壽命加老化測(cè)試試驗(yàn)箱

發(fā)布時(shí)間:2024-08-04

訪(fǎng)問(wèn)次數(shù):1512

簡(jiǎn)要描述:

PCT高壓加速壽命加老化測(cè)試試驗(yàn)箱主要是測(cè)試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力,待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測(cè)試,濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線(xiàn)架之接口滲入封裝體,常見(jiàn)之故障方式為主動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?,或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應(yīng)用于線(xiàn)路板,多層線(xiàn)路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測(cè),測(cè)試其制品的耐壓性,氣密性。

詳細(xì)介紹

PCT高壓加速壽命加老化測(cè)試試驗(yàn)箱產(chǎn)品應(yīng)用:PCT加速老化試驗(yàn)箱主要是測(cè)試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力,待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測(cè)試,濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線(xiàn)架之接口滲入封裝體,常見(jiàn)之故障方式為主動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?,或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應(yīng)用于線(xiàn)路板,多層線(xiàn)路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測(cè),測(cè)試其制品的耐壓性,氣密性。加速老化壽命試驗(yàn)的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如:溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷等),加快試驗(yàn)過(guò)程,縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。

PCT高壓加速壽命加老化測(cè)試試驗(yàn)箱
a   型號(hào):PCT—45L
b   內(nèi)箱尺寸:450x500mm圓形內(nèi)箱,符合工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)
c   外箱尺寸:700x650x850mm(W、H、D)
d    容量:       35kg

參數(shù):
a   溫度范圍: 100℃~+132 ℃
b   溫度波動(dòng)度:±0.5℃           
c   溫度偏差:±1.5 ℃        
e   濕度范圍:100%RH(飽和蒸氣)
f   濕 度波動(dòng)度:±2.0%RH
j   加壓時(shí)間:40分鐘 +132 ℃
h   循環(huán)方式:水蒸氣對(duì)流循環(huán)

四高溫高壓材質(zhì):
a  外箱材質(zhì):高級(jí)不銹鋼
b  內(nèi)箱材質(zhì):SUS316#不銹鋼
c   箱體保溫材質(zhì):高級(jí)超細(xì)玻璃棉
d   單門(mén)圓門(mén):門(mén)把手在右、內(nèi)箱壓力愈大時(shí),會(huì)有反壓使其與箱體更緊密結(jié)合,與傳統(tǒng)擠

壓*不同,可延長(zhǎng)packing壽命。

五高溫高壓蒸煮儀安全保護(hù):

a   試驗(yàn)箱可調(diào)試高溫保護(hù)
b   壓力限制保護(hù)
c   缺水報(bào)*保護(hù)
d   溫度加熱器保護(hù)
e   漏電漏水保護(hù)(設(shè)置報(bào)*)
f   手動(dòng)泄壓保護(hù),自動(dòng)泄壓保護(hù)
j   切斷電源

 


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